이재신, 최광욱, 서민호, 유재영, 조민승, 윤준보, “팔라듐 나노구조 형상에 따른 크랙 발생 경향과 수소 감지 성능 비교”, 제19회 한국 MEMS 학술대회, Poster FP-2-29

2017kmems이재신그림